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DAGM 2007
29th Annual Symposium of the German Association for Pattern Recognition
Program Committee
T. Aach, RWTH Aachen
H. Bischof, Universität Graz
J. Buhmann, ETH Zürich
H. Burkhardt, Universität Freiburg
D. Cremers, Universität Bonn
J. Denzler, Universität Jena
B. Flach, TU Dresden
W. Förstner, Universität Bonn
D. Gravila, DaimlerChrysler
F.A. Hamprecht, Universität Heidelberg
J. Hornegger, Universität Erlangen
B. Jähne, Universität Heidelberg
X. Jiang, Universität Münster
R. Koch, Universität Kiel
U. Koethe, Universität Hamburg
W.-G. Kropatsch, TU Wien
H. Mayer, BW-Universität München
R. Mester, Universität Frankfurt
K.-R. Müller, Fraunhofer First
H. Ney, RWTH Aachen
K. Obermayer, TU Berlin
K. Rohr, Universität Heidelberg
B. Schiele, Universität Darmstadt
C. Schnörr, Universität Mannheim
B. Schölkopf, MPI Tübingen
G. Sommer, Universität Kiel
C. Stiller, Universität Karlsruhe
T. Vetter, Universität Basel
F.M. Wahl, Universität Braunschweig
J. Weickert, Universität des Saarlandes
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DIP